序号

测量仪器名称

被测量

校准规范名称及编号

测量范围

说明

1

坐标测量球

圆度

坐标测量球校准规范JJF 1422

(0～10)μm

U=0.05μm

长度

Ф(10～50)mm

U=0.3μm

2

*坐标测量机

长度

坐标测量机校准规范JJF1064

(0～15)m

U=(0.7+1L/1000)µmL:mm

3

*圆度仪

圆度

圆度、圆柱度测量仪检定规程JJG429

(0.01～25)μm

Urel=1.6%

4

平晶

平面度

平晶检定规程JJG28

D(10～100)mm

U=0.03μm

平行度

(0～0.2) mm

U=0.2μm

5

*平板

平面度

平板检定规程JJG117

(100×100)mm～（1500×1500）mm

U=(1.6～2.2)μm

(1600×1000)mm～（3000×5000）mm

U=(2.6～5.2)μm

6

套管尺

长度

套管尺检定规程JJG 473

(0.6～2) m

U=（0.06～0.37）mm

7

塞尺

长度

塞尺检定规程JJG62

厚度(0.02～3)mm

U=3μm

8

圆锥螺纹量规

长度

圆锥螺纹量规校准规范TSZJ82

塞规（1～150）mm

U=4.5μm

环规（1.5～160）mm

U=6.2μm

9

石油螺纹工作量规

长度

石油螺纹工作量规校准规范JJF 1108

塞规（1～150）mm

U=4.5μm

环规（1.5～160）mm

U=6.2μm

10

标准环规

长度

标准环规检定规程JJG894

(4～100)mm

U=0.7μm+6×10^-6L

11

圆柱螺纹量规

长度

圆柱螺纹量规校准规范JJF1345

塞规: (0.25～100)mm

U=2.4μm

环规：(1～100)mm

U=3.0μm

12

*带表卡规

长度

带表卡规校准规范JJF 1253

(5～100）mm

U=5μm+5×10^-5L，L:mm

13

*百分表式卡规

长度

百分表式卡规检定规程JJG109

(0～1000）mm

U=3.0μm

14

专用量规

长度

光滑极限量规检定规程JJG 343,几何量工件与测量设备校准规范 TSZJ 040

Φ(6～2000)mm

U=(4+4L )μm，L:m

角度

(0～360)°

U=2′

15

步距规

长度

步距规校准规范JJF1258

(0～1000)mm

U=4μm+4×10^-6L

16

针规、三针

长度

针规、三针校准规范JJF1207

(0～25）mm

U=(0.3～0.6)µm

17

*光学计

长度

光学计检定规程JJG45

(-100～100)μm

U=0.12μm

18

*测长机

长度

测长机校准规范JJF1066

微米标尺:(0～100)μm

U=0.3μm

毫米标尺:(0～100)mm

U=0.5μm

分米标尺:(0～1000)mm

U=(0.6～4.7)μm

19

*测长仪

长度

测长仪校准规范JJF1189

(0～10)m

U=(0.3~0.8)μm

20

*激光测径仪

长度

激光测径仪校准规范JJF1250

(0～30)mm

U=0.7μm

21

*接触式干涉仪

长度

接触式干涉仪检定规程JJG101

(-50～50)μm

U=0.3μm

22

*机械式比较仪

长度

机械式比较仪检定规程JJG39

(-100～+100)μm

U=0.2μm

23

*扭簧式比较仪

长度

扭簧式比较仪检定规程JJG118

(-100～+100)μm

U=0.2μm

24

*电感测微仪

长度

电感测微仪校准规范JJF1331

(-1000～+1000)μm

U=(0.1～0.3)μm

25

斜块式测微仪检定器

长度

斜块式测微仪检定器检定规程JJG525

(0～2000)μm

U=2.1 μm

26

*光栅式测微仪

长度

光栅式测微仪校准规范JJF 1682

(0～100)mm

U=0.15μm+1×10^-6L，L:mm

27

表面粗糙度比较样块

表面

粗糙度比较样块校准规范JJF1099

(0.025～25)μm

Urel=7%

粗糙度

28

*表面粗糙度测量仪

表面

触针式表面粗糙度测量仪校准规范JJF1105

(0.1～3.2)μm

Urel=6%

粗糙度

29

半径样板

长度

半径样板检定规程JJG58

(1～25)mm

U=(7～9)μm

30

螺纹样板

长度

螺纹样板检定规程JJG60

(0.4～6.0)mm

U=(4～6)μm

31

刮板细度计

长度

刮板细度计检定规程JJG905

(0～150）μm

U=1μm

32

*读数、测量显微镜

长度

读数、测量显微镜检定规程JJG571

(0～50)mm

U=1.5μm

33

*工具显微镜

长度

工具显微镜检定规程JJG56

(0～100)mm

U=0.6µm

(>100～200)mm

U=0.9µm

34

*金相显微镜

长度

金相显微镜检定规程JJG(苏)131

(0.01～10)mm，放大倍数（10～1000）X

U=1.5μm

35

*生物显微镜

长度

生物显微镜校准规范JJF1402

(0.1～200)mm

U=3.2μm

(10～1000) X

Urel=1.5%

36

*干涉显微镜

长度

干涉显微镜检定规程JJG77

(0.05～1.00) μm

Urel=1.7%

37

*体视显微镜

长度

体视显微镜校准规范JJF（闽）1063

(0～100）mm

U=0.02mm

放大倍数

(0.5～20)×

Urel=1.0%

38

*扫描电子显微镜

长度

扫描电子显微镜试行检定规程JJG 550

(0.1～50)μm

U=25nm+2×10^-9L

39

*影像测量仪(二次元）

长度

影像测量仪校准规范JJF1318

(0～100)mm

U=1.5µm

(>100～500)mm

U=（1.5～10）µm

40

*刀具预调测量仪

长度

刀具预调测量仪检定规程JJG938

(0～1000)mm

U=(0.6+2L)μm ,L:m

41

*超声波测厚仪

长度

超声波测厚仪校准规范JJF1126

(0.5～100)mm

U=(28~41)μm

42

*磁性、电涡流式覆层测厚仪

长度

磁性、电涡流式覆层厚度测量仪检定规程JJG818

(0.1～500) µm

Urel=1.5%

(>500～1250) µm

Urel=2.5%

43

*锡膏厚度测量仪

长度

锡膏厚度测量仪校准规范JJF(苏) 191

(0～400) μm

U=1.1μm

44

*X射线荧光镀层测厚仪

长度

X射线荧光镀层测厚仪校准规范 JJF1306

(0.093～10) μm

Urel=10%

45

*橡胶塑料薄膜测厚仪

长度

橡胶、塑料薄膜测厚仪校准规范JJF 1488

(0～30)mm

U=3.4μm

46

*电解式（库伦）测厚仪

长度

电解式（库伦）测厚仪校准规范JJF 1707

(0.1～20)μm

Urel=10%

47

*皮革面积测量机

面积

皮革面积测量机检定规程JJG413

(0.2～1.0) m²

U=0.002m²

48

*气动测量仪

长度

气动测量仪检定规程JJG356

(0～400)μm

U=0.4μm

49

位移传感器

长度

线位移传感器校准规范JJF1305

(0～500)mm

U=2μm

50

角位移传感器

角度

角位移传感器校准规范JJF1352

(0.1～360)°

Urel=0.08%

51

*试验筛

长度

试验筛校准规范JJF1175

(0.02～5)mm

U=0.01mm

(>5～125)mm

U=0.03mm

52

焊接检验尺

长度

焊接检验尺检定规程JJG704

(0～60) mm

U=0.05mm

角度

0º～150º

U=9′

53

*湿膜厚度测量规

长度

湿膜厚度测量规校准规范JJF 1484

(0～3000) μm

U=4μm

54

建筑工程质量检测器组

长度

建筑工程质量检测器组校准规范JJF1110

锲形塞尺：(0～50) mm

U=0.04mm

对角检测尺：（0～2）m

U=0.5mm

垂直度、内外直角检测尺:(0～90)º

U=2´

百格网:(0.01～300)mm

Urel=0.15%

55

玩具类检测器具

长度

玩具类检测器具校准规范TSZJ 1

(0～600)mm

U=0.03mm

不做关节式可触及探头

角度

0°～360°

U=2'

质量

(0~6000）g

U=0.2g

转速

(0～40)mm/s

U=0.3mm/s

试验力

(0～50)N

U=0.04N

硬度

(10~100）HA

U=1.5HA

56

测试指、针、甲、销

长度

几何量工件与测量设备校准规范TSZJ 40

(0.05～300)mm

U=0.01mm

(0～360)°

U=2′

57

针状、片状规准仪

长度

针状、片状规准仪校准规范JJF1593

(0～200)mm

U=0.03mm

58

*坍落度筒及捣棒

长度

水泥混凝土稠度试验仪JJG(苏)50

(0～250)mm

U=0.05mm

59

工作用玻璃尺

长度

工作用玻璃尺校准规范TSZJ 21

(0～300）mm

U=3μm

60

分辨力板

长度

分辨力板检定规程JJG827

(0～50) mm

U=2.3 μm

61

*试模

长度

试模校准规范JJF1307

(0～600) mm

U=(0.03～0.09)mm

角度

(0～90)°

U=0.05°

62

*半导体集成电路制造氮化硅膜厚测试仪

长度

半导体集成电路制造氮化硅膜厚测试仪校准规范TSZJ 76

(20～200)nm

Urel=3.0%

63

*半导体集成电路制造二氧化硅膜厚测试仪

长度

半导体集成电路制造二氧化硅膜厚测试仪校准规范TSZJ 77

(2～1010)nm

Urel=3.0%

64

*半导体集成电路制造晶圆表面颗粒测试仪

长度

半导体集成电路制造晶圆表面颗粒测试仪校准规范TSZJ 78

40 nm～ 4μm

Urel=5.0%

65

*半导体集成电路制造纳米尺寸测试仪

长度

半导体集成电路制造纳米尺寸测试仪校准规范TSZJ 79

(25～110)nm

Urel=3.0%

66

*半导体集成电路制造台阶高度测试仪

长度

半导体集成电路制造台阶高度测试仪校准规范TSZJ 80

(8～940)nm

Urel=3.0%

67

楔形塞尺

长度

楔形塞尺校准规范JJF 1548

(0～60）mm

U=0.02mm

68

漆膜划格器

长度

漆膜划格器校准规范JJF（皖）53

(0～5)mm

U=0.003mm

角度

(25~35）°

U=0.2°

69

*坐标定位测量系统

长度

坐标定位测量系统校准规范JJF1251

(0～40) m

U=(1.5+0.7L)μmL:m

70

*关节臂式坐标测量机

长度

关节臂式坐标测量机校准规范JJF1408

(0～3)m

U=(9～20)μm

71

*引伸计

长度

引伸计检定规程JJG762

(0～25)mm

U=（0.9～1.8）μm

长度

标距：(0～600)mm

U=0.04 mm

72

引伸计标定器

长度

引伸计检定器校准规范JJF1096

(0～25)mm

U=2μm

73

*滚筒跌落试验机

转速

滚筒跌落试验机校准规范TSZJ 15

(1～100) r/min

Urel=0.5%

长度

(0～2000) mm

U=2mm

74

*导体伸长率仪

长度

导体伸长率检定规程JJG(粤)005

(0.1～400)mm

Urel=0.3％

75

*面差尺

长度

面差尺校准规范JJF（翼）154

（-50~+50）mm

U=0.02mm

76

超声波探伤试块

长度

超声波探伤试块校准规范JJF 1487

(0～300）mm

U=0.004mm

77

*垂直轴偏差测定仪

长度

垂直轴偏差测量仪校准规范JJF（翼）153

(0～500）mm

U=0.008mm

78

*表面轮廓表

长度

表面轮廓表校准规范JJF 1476

(0～6.5）mm

U=1.8μm