公司医学实验室拥有医学计量实验室、核酸检测实验室和洁净检测实验室等三个专业化科室,实验室获得了中国合格评定国家认可委员会CNAS认可校准证书以及市场监督管理局授予的中华人民共和国法定计量检定机构计量检定授权证书,医学计量校准认可项目有100多项,医学计量检定授权项目包括:多参数监护仪、心脑电图、血压计、水银温度计、眼科仪器、耳科仪器及放射科仪器等多项强制检定项目,是国内少有的可以为医疗卫生单位提供“一站式计量校准及检定服务”能力的第三方计量机构,免去客户因为检定二次分包而耗费大量时间和精力的烦恼。
实验室目前工程师人数16人,其中注册计量师3名,专家级工程师2名,高级工程师2名,获得CNAS认可的机动车校准项目约70项,包括轨道交通踏面样板、铁路轨距尺检定器、标准轨距铁路轨距尺、铁路机车车辆轴颈量具、铁路机车车辆车轮检查器、机车车辆轮对内距尺等轨道交通检测以及相关项目。
公司医学实验室拥有医学计量实验室、核酸检测实验室和洁净检测实验室等三个专业化科室,实验室获得了中国合格评定国家认可委员会CNAS认可校准证书以及市场监督管理局授予的中华人民共和国法定计量检定机构计量检定授权证书,医学计量校准认可项目有100多项,医学计量检定授权项目包括:多参数监护仪、心脑电图、血压计、水银温度计、眼科仪器、耳科仪器及放射科仪器等多项强制检定项目,是国内少有的可以为医疗卫生单位提供“一站式计量校准及检定服务”能力的第三方计量机构,免去客户因为检定二次分包而耗费大量时间和精力的烦恼。
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实验室目前工程师人数16人,其中注册计量师3名,专家级工程师2名,高级工程师2名,获得CNAS认可的机动车校准项目约70项,包括轨道交通踏面样板、铁路轨距尺检定器、标准轨距铁路轨距尺、铁路机车车辆轴颈量具、铁路机车车辆车轮检查器、机车车辆轮对内距尺等轨道交通检测以及相关项目。
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实验室目前工程师人数16人,其中注册计量师3名,专家级工程师2名,高级工程师2名,获得CNAS认可的机动车校准项目约70项,包括轨道交通踏面样板、铁路轨距尺检定器、标准轨距铁路轨距尺、铁路机车车辆轴颈量具、铁路机车车辆车轮检查器、机车车辆轮对内距尺等轨道交通检测以及相关项目。
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公司医学实验室拥有医学计量实验室、核酸检测实验室和洁净检测实验室等三个专业化科室,实验室获得了中国合格评定国家认可委员会CNAS认可校准证书以及市场监督管理局授予的中华人民共和国法定计量检定机构计量检定授权证书,医学计量校准认可项目有100多项,医学计量检定授权项目包括:多参数监护仪、心脑电图、血压计、水银温度计、眼科仪器、耳科仪器及放射科仪器等多项强制检定项目,是国内少有的可以为医疗卫生单位提供“一站式计量校准及检定服务”能力的第三方计量机构,免去客户因为检定二次分包而耗费大量时间和精力的烦恼。
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公司医学实验室拥有医学计量实验室、核酸检测实验室和洁净检测实验室等三个专业化科室,实验室获得了中国合格评定国家认可委员会CNAS认可校准证书以及市场监督管理局授予的中华人民共和国法定计量检定机构计量检定授权证书,医学计量校准认可项目有100多项,医学计量检定授权项目包括:多参数监护仪、心脑电图、血压计、水银温度计、眼科仪器、耳科仪器及放射科仪器等多项强制检定项目,是国内少有的可以为医疗卫生单位提供“一站式计量校准及检定服务”能力的第三方计量机构,免去客户因为检定二次分包而耗费大量时间和精力的烦恼。
实验室目前工程师人数16人,其中注册计量师3名,专家级工程师2名,高级工程师2名,获得CNAS认可的机动车校准项目约70项,包括轨道交通踏面样板、铁路轨距尺检定器、标准轨距铁路轨距尺、铁路机车车辆轴颈量具、铁路机车车辆车轮检查器、机车车辆轮对内距尺等轨道交通检测以及相关项目。
实验室配备有高精度光栅测长机、立式光学计、三坐标测量机、万能工具显微镜、标准半球、电感测微仪等计量标准。
序号 | 测量仪器名称 | 被测量 | 校准规范名称及编号 | 测量范围 | 扩展不确定度 (k=2) | 说明 |
1 | 坐标测量球 | 圆度 | 坐标测量球校准规范JJF 1422 | (0~10)μm | U=0.05μm | |
长度 | Ф(10~50)mm | U=0.3μm | ||||
2 | *坐标测量机 | 长度 | 坐标测量机校准规范JJF1064 | (0~15)m | U=(0.7+1L/1000)µmL:mm | |
3 | *圆度仪 | 圆度 | 圆度、圆柱度测量仪检定规程JJG429 | (0.01~25)μm | Urel=1.6% | |
4 | 平晶 | 平面度 | 平晶检定规程JJG28 | D(10~100)mm | U=0.03μm | |
平行度 | (0~0.2) mm | U=0.2μm | ||||
5 | *平板 | 平面度 | 平板检定规程JJG117 | (100×100)mm~(1500×1500)mm | U=(1.6~2.2)μm | |
(1600×1000)mm~(3000×5000)mm | U=(2.6~5.2)μm | |||||
6 | 套管尺 | 长度 | 套管尺检定规程JJG 473 | (0.6~2) m | U=(0.06~0.37)mm | |
7 | 塞尺 | 长度 | 塞尺检定规程JJG62 | 厚度(0.02~3)mm | U=3μm | |
8 | 圆锥螺纹量规 | 长度 | 圆锥螺纹量规校准规范TSZJ82 | 塞规(1~150)mm | U=4.5μm | |
环规(1.5~160)mm | U=6.2μm | |||||
9 | 石油螺纹工作量规 | 长度 | 石油螺纹工作量规校准规范JJF 1108 | 塞规(1~150)mm | U=4.5μm | |
环规(1.5~160)mm | U=6.2μm | |||||
10 | 标准环规 | 长度 | 标准环规检定规程JJG894 | (4~100)mm | U=0.7μm+6×10-6L | |
11 | 圆柱螺纹量规 | 长度 | 圆柱螺纹量规校准规范JJF1345 | 塞规: (0.25~100)mm | U=2.4μm | |
环规:(1~100)mm | U=3.0μm | |||||
12 | *带表卡规 | 长度 | 带表卡规校准规范JJF 1253 | (5~100)mm | U=5μm+5×10-5L,L:mm | |
13 | *百分表式卡规 | 长度 | 百分表式卡规检定规程JJG109 | (0~1000)mm | U=3.0μm | |
14 | 专用量规 | 长度 | 光滑极限量规检定规程JJG 343,几何量工件与测量设备校准规范 TSZJ 040 | Φ(6~2000)mm | U=(4+4L )μm,L:m | |
角度 | (0~360)° | U=2′ | ||||
15 | 步距规 | 长度 | 步距规校准规范JJF1258 | (0~1000)mm | U=4μm+4×10-6L | |
16 | 针规、三针 | 长度 | 针规、三针校准规范JJF1207 | (0~25)mm | U=(0.3~0.6)µm | |
17 | *光学计 | 长度 | 光学计检定规程JJG45 | (-100~100)μm | U=0.12μm | |
18 | *测长机 | 长度 | 测长机校准规范JJF1066 | 微米标尺:(0~100)μm | U=0.3μm | |
毫米标尺:(0~100)mm | U=0.5μm | |||||
分米标尺:(0~1000)mm | U=(0.6~4.7)μm | |||||
19 | *测长仪 | 长度 | 测长仪校准规范JJF1189 | (0~10)m | U=(0.3~0.8)μm | |
20 | *激光测径仪 | 长度 | 激光测径仪校准规范JJF1250 | (0~30)mm | U=0.7μm | |
21 | *接触式干涉仪 | 长度 | 接触式干涉仪检定规程JJG101 | (-50~50)μm | U=0.3μm | |
22 | *机械式比较仪 | 长度 | 机械式比较仪检定规程JJG39 | (-100~+100)μm | U=0.2μm | |
23 | *扭簧式比较仪 | 长度 | 扭簧式比较仪检定规程JJG118 | (-100~+100)μm | U=0.2μm | |
24 | *电感测微仪 | 长度 | 电感测微仪校准规范JJF1331 | (-1000~+1000)μm | U=(0.1~0.3)μm | |
25 | 斜块式测微仪检定器 | 长度 | 斜块式测微仪检定器检定规程JJG525 | (0~2000)μm | U=2.1 μm | |
26 | *光栅式测微仪 | 长度 | 光栅式测微仪校准规范JJF 1682 | (0~100)mm | U=0.15μm+1×10-6L,L:mm | |
27 | 表面粗糙度比较样块 | 表面 | 粗糙度比较样块校准规范JJF1099 | (0.025~25)μm | Urel=7% | |
粗糙度 | ||||||
28 | *表面粗糙度测量仪 | 表面 | 触针式表面粗糙度测量仪校准规范JJF1105 | (0.1~3.2)μm | Urel=6% | |
粗糙度 | ||||||
29 | 半径样板 | 长度 | 半径样板检定规程JJG58 | (1~25)mm | U=(7~9)μm | |
30 | 螺纹样板 | 长度 | 螺纹样板检定规程JJG60 | (0.4~6.0)mm | U=(4~6)μm | |
31 | 刮板细度计 | 长度 | 刮板细度计检定规程JJG905 | (0~150)μm | U=1μm | |
32 | *读数、测量显微镜 | 长度 | 读数、测量显微镜检定规程JJG571 | (0~50)mm | U=1.5μm | |
33 | *工具显微镜 | 长度 | 工具显微镜检定规程JJG56 | (0~100)mm | U=0.6µm | |
(>100~200)mm | U=0.9µm | |||||
34 | *金相显微镜 | 长度 | 金相显微镜检定规程JJG(苏)131 | (0.01~10)mm,放大倍数(10~1000)X | U=1.5μm | |
35 | *生物显微镜 | 长度 | 生物显微镜校准规范JJF1402 | (0.1~200)mm | U=3.2μm | |
(10~1000) X | Urel=1.5% | |||||
36 | *干涉显微镜 | 长度 | 干涉显微镜检定规程JJG77 | (0.05~1.00) μm | Urel=1.7% | |
37 | *体视显微镜 | 长度 | 体视显微镜校准规范JJF(闽)1063 | (0~100)mm | U=0.02mm | |
放大倍数 | (0.5~20)× | Urel=1.0% | ||||
38 | *扫描电子显微镜 | 长度 | 扫描电子显微镜试行检定规程JJG 550 | (0.1~50)μm | U=25nm+2×10-9L | |
39 | *影像测量仪(二次元) | 长度 | 影像测量仪校准规范JJF1318 | (0~100)mm | U=1.5µm | |
(>100~500)mm | U=(1.5~10)µm | |||||
40 | *刀具预调测量仪 | 长度 | 刀具预调测量仪检定规程JJG938 | (0~1000)mm | U=(0.6+2L)μm ,L:m | |
41 | *超声波测厚仪 | 长度 | 超声波测厚仪校准规范JJF1126 | (0.5~100)mm | U=(28~41)μm | |
42 | *磁性、电涡流式覆层测厚仪 | 长度 | 磁性、电涡流式覆层厚度测量仪检定规程JJG818 | (0.1~500) µm | Urel=1.5% | |
(>500~1250) µm | Urel=2.5% | |||||
43 | *锡膏厚度测量仪 | 长度 | 锡膏厚度测量仪校准规范JJF(苏) 191 | (0~400) μm | U=1.1μm | |
44 | *X射线荧光镀层测厚仪 | 长度 | X射线荧光镀层测厚仪校准规范 JJF1306 | (0.093~10) μm | Urel=10% | |
45 | *橡胶塑料薄膜测厚仪 | 长度 | 橡胶、塑料薄膜测厚仪校准规范JJF 1488 | (0~30)mm | U=3.4μm | |
46 | *电解式(库伦)测厚仪 | 长度 | 电解式(库伦)测厚仪校准规范JJF 1707 | (0.1~20)μm | Urel=10% | |
47 | *皮革面积测量机 | 面积 | 皮革面积测量机检定规程JJG413 | (0.2~1.0) m2 | U=0.002m2 | |
48 | *气动测量仪 | 长度 | 气动测量仪检定规程JJG356 | (0~400)μm | U=0.4μm | |
49 | 位移传感器 | 长度 | 线位移传感器校准规范JJF1305 | (0~500)mm | U=2μm | |
50 | 角位移传感器 | 角度 | 角位移传感器校准规范JJF1352 | (0.1~360)° | Urel=0.08% | |
51 | *试验筛 | 长度 | 试验筛校准规范JJF1175 | (0.02~5)mm | U=0.01mm | |
(>5~125)mm | U=0.03mm | |||||
52 | 焊接检验尺 | 长度 | 焊接检验尺检定规程JJG704 | (0~60) mm | U=0.05mm | |
角度 | 0º~150º | U=9′ | ||||
53 | *湿膜厚度测量规 | 长度 | 湿膜厚度测量规校准规范JJF 1484 | (0~3000) μm | U=4μm | |
54 | 建筑工程质量检测器组 | 长度 | 建筑工程质量检测器组校准规范JJF1110 | 锲形塞尺:(0~50) mm | U=0.04mm | |
对角检测尺:(0~2)m | U=0.5mm | |||||
垂直度、内外直角检测尺:(0~90)º | U=2´ | |||||
百格网:(0.01~300)mm | Urel=0.15% | |||||
55 | 玩具类检测器具 | 长度 | 玩具类检测器具校准规范TSZJ 1 | (0~600)mm | U=0.03mm | 不做关节式可触及探头 |
角度 | 0°~360° | U=2' | ||||
质量 | (0~6000)g | U=0.2g | ||||
转速 | (0~40)mm/s | U=0.3mm/s | ||||
试验力 | (0~50)N | U=0.04N | ||||
硬度 | (10~100)HA | U=1.5HA | ||||
56 | 测试指、针、甲、销 | 长度 | 几何量工件与测量设备校准规范TSZJ 40 | (0.05~300)mm | U=0.01mm | |
(0~360)° | U=2′ | |||||
57 | 针状、片状规准仪 | 长度 | 针状、片状规准仪校准规范JJF1593 | (0~200)mm | U=0.03mm | |
58 | *坍落度筒及捣棒 | 长度 | 水泥混凝土稠度试验仪JJG(苏)50 | (0~250)mm | U=0.05mm | |
59 | 工作用玻璃尺 | 长度 | 工作用玻璃尺校准规范TSZJ 21 | (0~300)mm | U=3μm | |
60 | 分辨力板 | 长度 | 分辨力板检定规程JJG827 | (0~50) mm | U=2.3 μm | |
61 | *试模 | 长度 | 试模校准规范JJF1307 | (0~600) mm | U=(0.03~0.09)mm | |
角度 | (0~90)° | U=0.05° | ||||
62 | *半导体集成电路制造氮化硅膜厚测试仪 | 长度 | 半导体集成电路制造氮化硅膜厚测试仪校准规范TSZJ 76 | (20~200)nm | Urel=3.0% | |
63 | *半导体集成电路制造二氧化硅膜厚测试仪 | 长度 | 半导体集成电路制造二氧化硅膜厚测试仪校准规范TSZJ 77 | (2~1010)nm | Urel=3.0% | |
64 | *半导体集成电路制造晶圆表面颗粒测试仪 | 长度 | 半导体集成电路制造晶圆表面颗粒测试仪校准规范TSZJ 78 | 40 nm~ 4μm | Urel=5.0% | |
65 | *半导体集成电路制造纳米尺寸测试仪 | 长度 | 半导体集成电路制造纳米尺寸测试仪校准规范TSZJ 79 | (25~110)nm | Urel=3.0% | |
66 | *半导体集成电路制造台阶高度测试仪 | 长度 | 半导体集成电路制造台阶高度测试仪校准规范TSZJ 80 | (8~940)nm | Urel=3.0% | |
67 | 楔形塞尺 | 长度 | 楔形塞尺校准规范JJF 1548 | (0~60)mm | U=0.02mm | |
68 | 漆膜划格器 | 长度 | 漆膜划格器校准规范JJF(皖)53 | (0~5)mm | U=0.003mm | |
角度 | (25~35)° | U=0.2° | ||||
69 | *坐标定位测量系统 | 长度 | 坐标定位测量系统校准规范JJF1251 | (0~40) m | U=(1.5+0.7L)μmL:m | |
70 | *关节臂式坐标测量机 | 长度 | 关节臂式坐标测量机校准规范JJF1408 | (0~3)m | U=(9~20)μm | |
71 | *引伸计 | 长度 | 引伸计检定规程JJG762 | (0~25)mm | U=(0.9~1.8)μm | |
长度 | 标距:(0~600)mm | U=0.04 mm | ||||
72 | 引伸计标定器 | 长度 | 引伸计检定器校准规范JJF1096 | (0~25)mm | U=2μm | |
73 | *滚筒跌落试验机 | 转速 | 滚筒跌落试验机校准规范TSZJ 15 | (1~100) r/min | Urel=0.5% | |
长度 | (0~2000) mm | U=2mm | ||||
74 | *导体伸长率仪 | 长度 | 导体伸长率检定规程JJG(粤)005 | (0.1~400)mm | Urel=0.3% | |
75 | *面差尺 | 长度 | 面差尺校准规范JJF(翼)154 | (-50~+50)mm | U=0.02mm | |
76 | 超声波探伤试块 | 长度 | 超声波探伤试块校准规范JJF 1487 | (0~300)mm | U=0.004mm | |
77 | *垂直轴偏差测定仪 | 长度 | 垂直轴偏差测量仪校准规范JJF(翼)153 | (0~500)mm | U=0.008mm | |
78 | *表面轮廓表 | 长度 | 表面轮廓表校准规范JJF 1476 | (0~6.5)mm | U=1.8μm | |